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在核島內(nèi)部50kGy/h的強(qiáng)輻射場中,傳統(tǒng)貼片電容因γ射線電離效應(yīng)導(dǎo)致介質(zhì)層電導(dǎo)率暴增千倍,容值漂移超±40%——這曾導(dǎo)致某沸水堆巡檢機(jī)器人誤判蒸汽管道狀態(tài)而觸發(fā)停機(jī)。平尚科技聯(lián)合核工業(yè)研究院開發(fā)的氮化硼納米屏蔽電容,通過中子俘獲材料與缺陷自修復(fù)技術(shù),在累計200kGy輻照劑量下容值波動≤±0.1%,為核電站機(jī)器人鑄就“輻射免疫”的感知基石。
輻射殺傷的三重機(jī)制
電離效應(yīng)導(dǎo)電溝道:
γ射線使鈦酸鋇介質(zhì)產(chǎn)生>101?/cm3自由電子-空穴對,絕緣電阻從10GΩ暴跌至10kΩ;
中子位移損傷:
快中子轟擊晶格產(chǎn)生>5000ppm空位缺陷,介電常數(shù)衰減35%(劑量100kGy時);
γ熱效應(yīng)失控:
射線能量在介質(zhì)層局部沉積,熱點(diǎn)溫度達(dá)300℃,引發(fā)銀離子遷移短路。
平尚科技三維抗輻堡壘
硼-碳化鉿復(fù)合屏蔽層
介質(zhì)層外包覆5μm BN-HfC納米層(中子俘獲截面106b),快中子吸收率>99.97%
γ射線電離效應(yīng)抑制率92%(實(shí)測電導(dǎo)率維持10?Ω·cm)
自修復(fù)鈣鈦礦晶體
鋯鈦酸鉛晶格摻雜鈰離子,輻射空位被動態(tài)填充(修復(fù)速率>500ppm/h)
200kGy輻照后介電常數(shù)變化<±0.3%(傳統(tǒng)材料>-30%)
納米銀抗遷移電極
銀顆粒表面包覆2nm氧化石墨烯,離子遷移激活能提升至2.1eV(常規(guī)0.8eV)
通過IEC 61513核級認(rèn)證的LOCA事故測試(85℃/85%RH硼酸溶液浸泡30天)
核島內(nèi)實(shí)測數(shù)據(jù)
(壓水堆安全殼內(nèi)累計運(yùn)行2000小時)
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參數(shù) | 常規(guī)電容 | 平尚PS-RC系列 |
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100kGy容值變化 | -38.7% | +0.08% |
絕緣電阻(200kGy) | 5.2kΩ | 8.7GΩ |
中子輻照后ESR | 1.8Ω | 0.05Ω |
γ射線熱擊穿率 | 43% | 0% |
誤報警事件數(shù) | 17次 | 0次 |
核級制造體系
平尚科技構(gòu)建原子級質(zhì)控:
鈷源輻照預(yù)篩選:
60Co γ源施加50kGy預(yù)輻照,剔除容變>±0.5%個體
中子流注量測試:
模擬堆芯環(huán)境進(jìn)行101?n/cm2快中子轟擊(符合ASTM E722標(biāo)準(zhǔn))
熱釋光缺陷掃描:
檢測介質(zhì)晶格缺陷密度,分辨率0.1ppm
當(dāng)巡檢機(jī)器人在2.5MGy/h的蒸汽發(fā)生器狹縫中穿行時,平尚電容的硼化鉿屏蔽層將中子通量壓制至安全閾值,自修復(fù)晶體在射線轟擊下發(fā)出幽藍(lán)的切倫科夫輻射。通過中子俘獲、晶格自愈、抗遷電極三位一體方案,平尚科技將核電站機(jī)器人誤報率歸零,為每座百萬千瓦機(jī)組年均避免0萬非計劃停堆損失。